SN74BCT8373ANT - 深圳市贸泽微电子有限公司

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296-33848-5-ND

型号 :: SN74BCT8373ANT

制造商 :: Texas Instruments

简介 :: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

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库存 :: 59

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SN74BCT8373ANT

位数	8
供应商器件封装
安装类型	通孔
封装/外壳
工作温度	0°C ~ 70°C
电源电压	4.5 V ~ 5.5 V
系列	74BCT
逻辑类型	扫描测试设备，带 D 型锁存器

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