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296-14679-1-ND

型号 :
SN74ABT8245DWR
制造商 :
Texas Instruments
简介 :
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
PDF :
PDF
库存 :
2063 
单价 :
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位数 8
供应商器件封装
安装类型 表面贴装
封装/外壳 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
工作温度 -40°C ~ 85°C
电源电压 4.5 V ~ 5.5 V
系列 74ABT
逻辑类型 扫描测试设备,带总线收发器
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